个人信息

姓  名: 许杰 性  別: 导师类型: 硕士生导师
技术职称: 副教授 电子邮箱:
学术型硕士招生学科: (080903)微电子学与固体电子学
专业型硕士招生类别(领域): (085403)集成电路工程
photo

个人简介:

许杰,男,2015年毕业于南京大学电子科学与技术专业,获工学博士学位。同年进入南京邮电大学微电子技术系从事教学与科研工作。目前承担本科生《半导体物理》《量子计算导论》等课程的教学工作,主持(包括在研/结题)国家自然科学基金青年基金项目1项,江苏省基础研究计划青年基金项目1项,国家重点实验室开放课题1项,校级科研项目2项。       



研究领域:

一、主要研究方向:
1.扫描探针显微系统的成像模拟和信号处理;
2.半导体光伏电池的建模和优化研究。
研究工具主要包括MATLAB和Python平台,对编程和物理基础有一定要求。

二、主要研究成果:
1. Jie Xu. "Separable Nonlinear Least Squares Search of Parameter Values in Photovoltaic Models", IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS 12(1), 372 (2022).
2. Jie Xu, Deyuan Chen, Gang Bai, Wei Li. "A separable nonlinear least squares approachfor double-diode photovoltaic model parameterextraction", J. Renewable Sustainable Energy 13, 043503 (2021).
3. Jie Xu, Deyuan Chen. "Interpreting Kelvin probe force microscopy on semiconductors by Fourier analysis", J. Appl. Phys. 129, 034301 (2021).
4. Jie Xu, Gang Bai, Jinze Li, Wei Li. "Inhomogeneous probe surface induced effect in Kelvin probe force microscopy", J. Appl. Phys. 127, 184302 (2020).
5. Jie Xu, Jinze Li, Wei Li. " Calculating electrostatic interactions in atomic force microscopy with semiconductor samples", AIP Advances 9, 105308 (2019)
6. Jie Xu, Deyuan Chen,Wei Li, Jun Xu. "Surface potential extraction from electrostatic and Kelvin-probe force microscopy images", Journal of Applied Physics 123, 184301(2018). [Editor's Pick]
7. Jie Xu, Dongke Li, Deyuan Chen,Wei Li, Jun Xu. "Nanoscale Characterization of Active Doping Concentration in Boron-Doped Individual Si Nanocrystals", Physica Status Solidi (a) 215, 1800531(2018).[封面文章]
8. Jie Xu, Yang Ji, Peng Lu, Gang Bai, Qingying Ren, Jun Xu."Microscopic observation of lateral and vertical charge transportation in Si nanocrystals sandwiched by amorphous SiC layers", AIP Advances 8, 015224(2018).
9. Jie Xu, Yangqing Wu, Wei Li, Jun Xu. "Surface potential modeling and reconstruction in Kelvin probe force microscopy", Nanotechnology 28, 365705(2017).

科研项目:

代表性学术成果:

指导的优秀研究生代表: